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產(chǎn)品中心
品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
Taylor Hobson Talysurf CCI Lite輪廓儀所有的表面都能夠被檢測:
Talysurf CCI Lite的好處還在于它的多功能 性,無論是拋光,粗糙的,曲面的,平面的 或者臺階表面,只要反射率在0.3%到100% 之間,都可以在同意模式里測量,而不用擔(dān) 心功能性的錯(cuò)誤。各種材料類型都可以被測量,如玻璃,液體, 照片,金屬,復(fù)合材料及粘膜。
數(shù)據(jù)分析
表面能夠使用通用的數(shù)據(jù),被量化地分 析三維與二維的表面數(shù)據(jù),區(qū)域與容積數(shù)據(jù)
• 120種E二維參數(shù),40種三維參數(shù)
• 計(jì)數(shù)與分類
• 自動(dòng)臺階高度測量t
自動(dòng)操作
標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)控制,可編程的XYZ平臺及自動(dòng) 聚焦,能夠非常容易地測量單一表面或復(fù)雜 形狀。XYZ縫補(bǔ)功能更滿足了形狀陡峭的表 面與大面積測量的需要。
Talysurf CCI Lite是基于世界*先相關(guān)相干計(jì)算法的新一代光學(xué)干涉儀,*的光學(xué)測量結(jié)果同時(shí)適應(yīng)精密工業(yè)測量與研究部門。The Talysurf CCI Lite 是一臺良好的光學(xué)干涉 儀,它采用了創(chuàng)新的,**的相關(guān)相干算法, 去尋找通過光學(xué)掃描得到的干涉圖象中的一致 點(diǎn)與相位The Talysurf CCI Lite 對于高精度的3D測量 而言是無價(jià)的,通過采用不同的物鏡頭,可 以檢測不同的表面,全自動(dòng)的工作臺能適應(yīng) 高水平的靈活應(yīng)用。
Taylor Hobson Talysurf CCI Lite輪廓儀關(guān)鍵特性:
? 強(qiáng)大而 穩(wěn)定的Z軸掃描
? 快速自動(dòng)XY平臺與Z軸聚焦
? 靈活的Z軸范圍-2.2mmZ軸范圍(縫補(bǔ)功能> 10mm)
? 精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)-標(biāo)準(zhǔn)配置超過百萬的采集數(shù)據(jù)
? 簡單-對所有表面都只需要一種測量模式
篤摯儀器(上海)有限公司專業(yè)代理英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等,篤摯技術(shù)服務(wù)部與匯聚資源的合作品牌一起,以共同對計(jì)量及試驗(yàn)技術(shù)的專注和專業(yè),致力于在質(zhì)量檢測領(lǐng)域,為客戶提供區(qū)域化和化的廣泛而的技術(shù)支持服務(wù),確保操作和維護(hù)儀器的總體有效性和成本優(yōu)化,增強(qiáng)您測量和檢測的可靠性和性能。歡迎留言或電詢,或進(jìn)入篤摯網(wǎng)上儀器展廳瀏覽更多便攜式粗糙度儀Surtronic DUO和Surtronic 25的詳情。
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系統(tǒng)參數(shù) | |
測量方法 | 相關(guān)相干算法 |
Z軸測量范圍 | 2.2 mm as standard (>10mm with Z stitchiing) |
Z軸分辨率[max] | 0.01 nm [0.1 Å] |
噪音Noise floor (Z) | <0.08 nm [0.8 Å] 1 |
RMS重復(fù)性精度 | <0.02 nm [0.2 Å] 2 |
測量面積(X, Y) | 6.6 mm (>75mm with XY stitching) |
測量數(shù)據(jù)點(diǎn)(X, Y) | 1024 x 1024 standard |
XY分辨率 | 0.4 - 0.6µm (surface dependent) |
臺階高度重復(fù)性 | < 0.1% |
表面反射率 | 0.3% - 100% |
測量時(shí)間 | 5-40 seconds (typical |